相控陣探傷技術(shù)是通過控制激發(fā)延遲時間，利用波束控制和每個元件所接收的信號波形進行計算處理的技術(shù)。2010年以后，F(xiàn)PGA（Field Programmable Gate Array現(xiàn)場可編程門陣列）等特定用途的高速信號處理技術(shù)，開始廉價地搭載到陣列探傷裝置中，使高速處理復(fù)雜信號成為可能,其代表實例即為合成孔徑聚焦技術(shù)。這是一種將應(yīng)用于雷達領(lǐng)域的接收發(fā)電波信號作為高分辨率圖像進行傳輸?shù)倪\算技術(shù)。陣列探頭上的元件雖小但指向性廣，一個元件所接收的探傷波形振幅與相位（傳播時間），包含被檢查區(qū)中存在的反射源大小及位置信息。

信號的處理過程是根據(jù)陣列探頭上各元件探測到的，即從多點接收到的大量探傷波形推測出各點數(shù)據(jù)的來源位置，并用在該位置上累計計算的振幅值，再構(gòu)成反射源的亮度圖像。相當(dāng)于把焦點對準被檢查區(qū)域所有點上的運算，將陣列探頭看成是一個大孔徑傳感器，因此，被檢查的全部區(qū)域即能得到波束聚集效果好、空間分辨率高的圖像。

另外，公司針對無縫鋼管上產(chǎn)生的帶狀夾雜缺陷，還開發(fā)出了應(yīng)用上述信號處理方式的帶狀夾雜缺陷定量評價技術(shù)。即在鋼管軸向上進行機械式掃描的同時，對各個位置進行合成孔徑聚焦處理，再利用連續(xù)生成的一連串剖面圖像，計算出各剖面圖像的缺陷寬度，根據(jù)由鋼管軸向測量的間距和寬度乘積求出面積，同時還能得到缺陷的平面圖。

此外，該公司還開發(fā)出了利用控制信號的延遲時間并使之形成擴散波束，接收時采用合成孔徑聚焦處理的鋼棒在線探傷技術(shù)。鋼棒的超聲波探傷一般采用垂直波束進行內(nèi)部檢測，外加利用斜角波束進行表面及表層檢測。近年來，由于對產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來越嚴，因此，必須提高產(chǎn)品缺陷的檢出率。另外，隨著生產(chǎn)效率的提高，必須做到高速檢測。探傷手段從傳統(tǒng)的垂直lch+斜角2ch探頭旋轉(zhuǎn)方式到用電子掃描的相控陣探傷方式,雖然可以滿足利用斜角波束進行表面及表層檢測和提高產(chǎn)品缺陷檢出率的條件要求，但要提高檢查速度，就必須縮短電子轉(zhuǎn)換(信號接收發(fā))周期，做到短周期化。但若如此，超聲波探傷中不可回避的物理現(xiàn)象“回聲”問題即成為瓶頸。于是，針對此問題開發(fā)出，采用的是廣角擴射波束，僅發(fā)送一次信號，即能令垂直波束和并用的斜角波束覆蓋較廣的范圍，通過合成孔徑聚焦技術(shù)提高信噪比(SN)o這樣，就能通過減少同一橫截面檢查所需要的接收發(fā)次數(shù)實現(xiàn)高速測。